產(chǎn)品系列

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TU1810T薄膜固體透過率快速測(cè)試儀
薄膜固體透過率快速測(cè)試儀用于測(cè)試固體和薄膜的光學(xué)性能、?表面電荷測(cè)試以及材料表面性能研究。? 薄膜固體測(cè)試儀在光學(xué)性能測(cè)試方面具有廣泛的應(yīng)用，?包括但不限于固體、?薄膜、?透鏡、?平板、?手機(jī)攝像頭、?建筑玻璃、?觸屏行業(yè)、?紡織、?珠寶鑒定、?真空鍍膜等材料的測(cè)試。?這些測(cè)試包括但不限于單層、?多層窗玻璃構(gòu)件的光學(xué)性能測(cè)定，?以及透射比準(zhǔn)確±0.3%T、?波長(zhǎng)準(zhǔn)確度±0.3nm的測(cè)量。?
TU-1810T大平臺(tái)快速透過率測(cè)試
大平臺(tái)快速透過率測(cè)試光學(xué)系統(tǒng)的透過率定義與意義光學(xué)系統(tǒng)的透過率是指光線通過光學(xué)元件(如透鏡、反射鏡、棱鏡等) 后，成功透過的比例。它反映了光學(xué)元件的阻擋能力，是評(píng)價(jià)光學(xué)元件性能的重要參數(shù)。透過率的大小取決于光學(xué)元件的材料、厚度、表面粗糙度等因素

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